事件の基本情報
| 裁判所 | 東京地方裁判所 |
|---|---|
| 事件番号 | 平成24(ワ)11800 |
| 判決日 | 2014-03-27 |
| 分類 | 知的財産 / 特許 |
| 判決種別 | 判決 |
| 判決文が挙げた条文 | 特許法100条1項 |
| 当事者 | 原告 東レ・デュポン株式会社/被告 宇部興産株式会社 |
この事件の代理人
争点(判決文より)
本件の争点は,(1)直接侵害による請求に関して,①被告製品の構成,②被告製 品が本件発明1の技術的範囲に属するか,③被告が本件発明1に係る特許権につい て先使用による通常実施権を有するか,④本件発明1に係る特許が特許無効審判に より無効にされるべきものと認められるかであり,(2)間接侵害による請求に関し て,上記①の外,②被告製品が本件発明2に係るCOF用基板の生産に用いる物に 当たるか,③被告において被告製品が本件発明2の実施に用いられることを知って いるか,④被告が本件発明2に係る特許権について先使用による通常実施権を有す るか,⑤本件発明2に係る特許が特許無効審判により無効にされるべきものと認め られるかである。 3 争点についての当事者の主張 (1) 直接侵害による請求に関して ア 争点①(被告製品の構成)について (原告の主張) 被告製品は,粒子径が0.12~0.14μmの微細シリカを含む。 被告製品は,粒子径が0.01μm以下の微細シリカを含まないのであっ て,被告製品の電子顕微鏡写真や被告製品に含まれる微細シリカのカタログ に掲載されている電子顕微鏡写真にも写っていない。仮に粒子径が0.01 μm以下の粒子をもごく少量含むとしても,それはシリカでなく,それをシ リカとしたエネルギー分散型X線分光法(Energy Dispersive X-ray Spectrometry。以下「EDS」という。)による組成分析は,通常,μm単 位の範囲で分析し,加速電圧を5kvに下げても,直径0.4μm弱の範囲 で分析してしまうから,隣接する粒子径が0.12~0.14μmの微細シ リカの組成を分析したにすぎない。 (被告の主張) 被告製品は,粒子径が0.01μm以下の粒子を多数含む。被告製品の電 子顕微鏡写真にも写っているし,被告製品に含まれる微細シリカのカタログ に掲載されている電子顕微鏡写真には写っていないが,除かれた可能性があ る。EDSによる組成分析は,加速電圧を下げるとともに試料を薄くすれ ば,nm単位の範囲でも分析することができるので,加速電圧を5kvに下 げるとともに,被告製品に用いられる微細シリカ中の上記粒子のうち粒子径 が約0.1μmの微細シリカから離れたものの組成を分析したところ,それ はシリカであった。 イ 争点②(被告製品が本件発明1の技術的範囲に属するか)について (原告の主張) 構成要件1A1及び2の「1以上」は,文言どおり,1以上を意味する。 本件特許出願の願書に添付された明細書(以下「本件明細書」という。)の 発明の詳細な説明には,いずれも2種類の芳香族ジアミン成分と酸無水物成 分とを使用して製造されるポリイミドフィルムの記載しかないが(段落【0 063】ないし【0065】),これは実施例の説明にすぎない。被告製品 は,いずれも1
主文(判決文より)
原告の請求を棄却する。 訴訟費用は原告の負担とする。
出典
本ページは裁判所が公開する判例データに基づいています。