事件の基本情報
| 裁判所 | 知的財産高等裁判所 |
|---|---|
| 事件番号 | 平成24(行ケ)10265 |
| 判決日 | 2013-03-19 |
| 分類 | 知的財産 / 特許 |
| 判決種別 | 判決 |
| 当事者 | 原告 株式会社東芝 |
この事件の代理人
争点(判決文より)
争点は,補正後の発明の進歩性の有無及び 補正前の発明の新規性の有無等である。 1 特許庁における手続の経緯 原告は,平成22年6月1日,平成17年8月29日にした特許出願(特願20 05-247838号)の一部を分割して,名称を「半導体装置」とする発明につ き特許出願をしたところ(特願2010-126112号),平成23年4月14日 に拒絶査定を受けたので,同年7月15日,不服審判請求をするとともに,特許請 求の範囲の記載及び明細書の発明の詳細な説明の記載の各一部を改める手続補正を した(本件補正)。特許庁は,平成24年6月12日,上記補正を却下する決定とと もに,「本件審判の請求は,成り立たない。」との審決をし,その謄本は同月22日 に原告に送達された。 2 本願発明の要旨 本願発明は,発光ダイオード等の窒化ガリウムを含有する半導体装置に関する発 明で,うち本件補正後の請求項1の特許請求の範囲は以下のとおりである(下線を 付した部分が補正した部分である)。 【請求項1(補正発明)】 「活性層と, p型のGaN系化合物半導体からなる第1半導体層と, 前記活性層と前記第1半導体層との間に配置されるInを含有するp型のIn Ga Al N(0≦x<1,0<y1<1)層と, -x-y1 x y1 前記活性層と前記In Ga Al N(0≦x<1,0<y1<1)層と 1-x-y1 x y1 の間,および前記In Ga Al N(0≦x<1,0<y1<1)層と前 1-x-y1 x y1 記第1半導体層との間のいずれか一方に配置されるp型のGaN系化合物半導体か らなる第2半導体層と, 前記第1半導体層と前記活性層との間に配置され,前記In Ga Al 1-x-y1 x y1 - 2 - N(0≦x<1,0<y1<1)層,前記第1半導体層,および第2半導体層より も小さいバンドギャップを有し,かつ前記In Ga Al N(0≦x<1, 1-x-y1 x y1 0<y1≦1)層,前記第1半導体層,および第2半導体層よりも格子定数が大き い,1~15nm の膜厚で,かつ1×1017cm-3~1×1019cm-3のMgを含有す るIn Ga N(0<y2≦1)層と,を備え, y2 1-y2 前記In Ga N(0<y2≦1)層におけるInの組成比は,前記In y2 1-y2 1 Ga Al N(0≦x<1,0<y1<1)層,第1半導体層,および第 -x-y1 x y1 2半導体層,におけるInの組成比よりも高いことを特徴とする半導体装置。」 また,本件補正前の請求項1の特許請求の範囲は以下のとおりである。 【請求項1(補正前発明)】 「活性層と, p型のGaN系化合物半導体からなる第1半導体層と, 前記活性層と前記第1半導体層との間に配置されるp型のIn Ga A 1-x-y
主文(判決文より)
原告の請求を棄却する。 訴訟費用は原告の負担とする。
出典
本ページは裁判所が公開する判例データに基づいています。